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罗永浩回应中兴按键寿命等加速老化测试报告

在今年9月7日蓝V认证的官方微博@中兴通讯产品研发标准发布了一篇名为《锤子T1手机老化实验报告粗解》的文章,在按键寿命中T1报告结果为1.5万次,而国标和YD标准规定电源键和侧键为5万次。

在挤压测试中结果为155N,而标准为250N。对此今天罗永浩针对这篇文章中的ALT(Accelerated Life Testing)加速老化测试的部分内容进行澄清。

附中兴《锤子T1手机老化实验报告粗解》的文章

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